XRDWin 2.0 PD
XRDWIN2.0 PDは当社の粉末解析の操作および粉末パターンのデータ解析用に設計されています。
基本的な定性的および定量的解析にはXRDWIN PDをお選びください。
XRDWin 2.0 PD 機能
• 測定器のウォームアップと制御、データ収集
• K-α1とK-α2の分離
• データのスムージング化
• 積分強度
• バックグランドフィッティング
• ピークの検索とフィッティング
• 定量分析のための強度比法
• 定量分析
• 微結晶サイズ
• ICDDデータベース検索マッチ（別途：データーベース）
• MDIジェイド·インターフェース（別途：ジェイド）
MDI Jade 2010
回折パターンの高度な解析にはMDIのJade 2010ソフトウェアをお勧めします。
このプログラムは XRDWIN PDと統合してRietveld詳細化のような高度な解析ツールにアクセスできるようにします。
Jade 2010
- ワンクリックの解析
- 粘土d間隔カーソル
- 全パターンフィティング
- Rietveld解析
- Rietveldでの制約結合距離
- 知的XRD入力ツール
- クラスター解析
- 移動限界前後の比較
- 格子定数を詳細化しながらダイナミックな3次元原子移動
- 格子定数の移動限界およびプロフィール広幅化
- バッチ処理に対する定量報告
- 純化した相のまとめ
- 除外する領域を指定する機能
- 制約モデルプロフィール
- 原子座標の知的制約
- 多項式/ユーザーバックグラウンドモデル 自動純化の複数観察パターン
- 自動純化の複数観察パターン
- 格子定数決定
- 利用可能構造の洗練された自動装填
- 純化のリアルタイム表示
- 構造/無構造の相データ
- 定量的解析
- スパイク較正のプロットおよびカーブ
- 2/3次元 円形および棒グラフおよびプレゼンテーションレポート
- 非結晶質含有量決定 標準付き
- 優先オリエンテーションモデル
- Brindley吸収補正
- 基準dリスト用に統合したICDD PDFオーバーレイ
- 多層解析の為のユーザーによるピーク選択
- ラインのプロフィール基盤 RIR解析、統計付き
- 定性解析
- 「既視感（デジャビュ）」検索/整合
- 自動相学習
- x基準付きICSD意識のフィルター
- 同一構造パターンファインダー
- 検索/整合 ヒットの要因解析
- 広範囲な検索/整合フィルター
- 優先オリエンテーション検索/整合
- 固溶体検索/整合
- メジャー/マイナー/追跡相検索/整合
- 全パターン検索
- 作成基準パターンデータベース
- 統計付きセル純化
- 全データからの構造検索
- NIST結晶データに対応
- 粉末回折データベース作成
- IUCr CIFファイルの読み込みと書き込み
- ψ–スキャンデータの残留応力解析
- 空間グループ制約付きパターンインデクシング
- 3 次元で結晶構造比較
- 完全物理シミュレーション
- MDI鉱質データベースを含む
- 複数パターンの3次元観察
- 主要フォーマットを全て読み取り
- θ（シータ）較正
- プロフィールフィティング
- 結晶粒サイズの推定
- バックグラウンドおよびKα2除去
- 洗練されたデータ平滑化
- オーバーレイ複数パターン
- パターン編集
- 自動ピーク発見
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