XRDWIN 2.0 LAUE
XRDWIN2.0 LAUEは当社の単結晶方位測定装置の操作およびラウエパターンのデータ解析用に設計されています。
標準機能には、パターンの分析、インデックスの作成、およびクリスタルの向き変更のための包括的なツールセットが含まれています。高速モードは、タービンブレードなどの単結晶部品をより高効率化することで時短に貢献します。
標準機能
• 空間群および結晶データからラウエ・スポットのシミュレーション
• パターンの自動化インデクシング
• オリエンテーションマトリクスの表示
• ラウエパターンをリアルタイムで評価するためのイメージモード
• 編集可能なイメージフレーム
• ラウエイメージの保存
設定
• ラウエ パターンの手動整合用の001、011、111オーバーレイ
• 編集可能なカスタムhklオーバーレイ
• オーバーレイ回転用の間隔マウス制御
• USA 角：γ（ガンマ）、δ（デルタ）、α（アルファ）、β（ベータ）、R値
• US 規約1および2
• UK 角：γ（ガンマ）、δ（デルタ）、θ（シータ）、α（アルファ）、R値、κ（カッパ）、ρ（ロー）、ω（オメガ）
• R 値計算は下記を使用して入手可能。
REL cos （R-2cos）、REL rms （R-2RMS）、DIFF cos （R-3cos）、DIFF rms （R-3RMS）、単一角 cos （R-1cos）
• 最短001基準オプションおよび局所基準オプション付きのオフ オリエンテーションモード
• 様々なラウエパターンにマッチングさせる自動インデクシング機能
• お客様の要求に基づく情報処理スクリーンカスタム化(オプション)
• 測定結果をデータベースにインターフェースする機能(オプション)
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