残留応力測定, 残留オーステナイトなら単結晶X線構造解析装置（XRT MF） - X線回折装置を網羅した企業

低分子結晶構造解析

低分子の構造解析用。
XRT MF X線源を搭載。

高圧結晶構造解析

高圧下での結晶性物質の研究に。
MetalJetのX線源で、ビームラインのパワーをラボで。

プロトは、最新の製品ラインである単結晶X線回折ラインの発売を開始いたします。プロトは、最先端の設定可能なシステムをお届けすることをお約束します。当社独自の高精度ベアリングから先進の検出器やマイクロフォーカスX線源オプションまで、お客様の装置は長年にわたり有意義な結果を提供します。

低分子結晶構造解析および高圧結晶構造解析用に最適化されたシステムにより、プロトはお客様のアプリケーションに最適な汎用性の高い単結晶XRD装置を提供します。

単結晶材料の構造を決定することは、その機能を完全に理解するために不可欠であり、単結晶XRDはこれらの材料を調査するための確立された信頼できる方法です。

ソフトウェアとアプリケーション

単結晶収集および解析のためのProtoのフラッグシップアプリケーションです。XCollect SCは、サンプルのアライメントやインデックス付けを容易にし、データ品質のニーズに合わせた最適な収集ストラテジーを開発します。また、スキャンデータをシームレスに統合・マージし、構造解析プログラムに簡単にエクスポートできます。

特長と機能

使いやすいサンプルセンタリングおよび測定ツール
クイックスキャン、スポット検出、インデックス作成
コレクション戦略生成
カイおよびカッパゴニオメータのサポート
データの精密化と統合
複数スキャンからの強度の統合
レポート作成
データエクスポート

高度なフォトンカウンティング検出器

プロトでは、機器に最適なX線検出システムを常に選択しています。そのため、すべての単結晶回折計にフォトンカウンティング検出器が搭載されています。これらの検出器はX線光子を直接捕獲し、電気信号に変換します。この直接変換は、ダークノイズゼロ、読み出しノイズゼロ、高ダイナミックレンジ、優れたS/N比を実現する点で有利です。当社の高品質フォトンカウンティング検出器オプションを使用すれば、検出器の飽和を心配する必要がなく、データに集中することができます。