粉末X線回折 AXRD LPD

実験室構成における高出力、正確性および柔軟性

アプリケーションのカスタマイズ

残留応力測定, 残留オーステナイト, ラウエ, 卓上X線回折, X線管球, 電解研磨装置

 

最先端のX線検出器

DECTRIS®ハイブリッドフォトンカウンティングディテクター – 高速データ収集

  • 1280チャンネル高速ソリッドステートリニア検出器
  • 同時マルチチャンネル収集により、シンチレーションカウンターよりも最大100倍速い収集時間が可能
  • シリコンストリップ技術を用いたX線の直接検出
  • 1×10 ^ 9カウント/秒のグローバルカウントレート
  • 高速収集時間
  • 64 mm x 8 mmのセンサー領域
  • 優れたS / N比と非常に高いダイナミックレンジ
  • 蛍光抑制モード

残留応力測定, 残留オーステナイト, ラウエ, 卓上X線回折, X線管球, 電解研磨装置

ソフトウェア XRDWIN PD

粉末パターンのデータ収集と分析の両方のための当社の完全なX線回折ソフトウェアパッケージは定性的および定量的分析のための完璧なソリューションです。 XRDWINのユニークな機能には、管球の暖気や一連の制御、セグメントモードやバッチモードの収集を含む柔軟なデータ収集オプション、圧力および温度環境セル制御、ピークサーチ、ピーク、微結晶サイズおよび歪みを含むプロファイル分析、結晶度、強度比法などがあります。 スパイクメソッドおよびリートベルト精密化。 ICDD PDFデータベースとCODデータベースで検索/照合します。 MDI Jadeインターフェースも利用可能です。

残留応力測定, 残留オーステナイト, ラウエ, 卓上X線回折, X線管球, 電解研磨装置

 

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