XRDWin 2.0 PD

XRDWIN2.0 PDは当社の粉末解析の操作および粉末パターンのデータ解析用に設計されています。
基本的な定性的および定量的解析にはXRDWIN PDをお選びください。

XRDWin 2.0 PD 機能

• 測定器のウォームアップと制御、データ収集

• K-α1とK-α2の分離

• データのスムージング化

• 積分強度

• バックグランドフィッティング

• ピークの検索とフィッティング

• 定量分析のための強度比法

• 定量分析

• 微結晶サイズ

• ICDDデータベース検索マッチ(別途:データーベース)

• MDIジェイド·インターフェース(別途:ジェイド)

MDI Jade 2010

 回折パターンの高度な解析にはMDIのJade 2010ソフトウェアをお勧めします。
このプログラムは XRDWIN PDと統合してRietveld詳細化のような高度な解析ツールにアクセスできるようにします。

Jade 2010

  • ワンクリックの解析
  • 粘土d間隔カーソル
  • 全パターンフィティング
  • Rietveld解析
  • Rietveldでの制約結合距離
  • 知的XRD入力ツール
  • クラスター解析
  • 移動限界前後の比較
  • 格子定数を詳細化しながらダイナミックな3次元原子移動
  • 格子定数の移動限界およびプロフィール広幅化
  • バッチ処理に対する定量報告
  • 純化した相のまとめ
  • 除外する領域を指定する機能
  • 制約モデルプロフィール
  • 原子座標の知的制約
  • 多項式/ユーザーバックグラウンドモデル 自動純化の複数観察パターン
  • 自動純化の複数観察パターン
  • 格子定数決定
  • 利用可能構造の洗練された自動装填
  • 純化のリアルタイム表示
  • 構造/無構造の相データ
  • 定量的解析
  • スパイク較正のプロットおよびカーブ
  • 2/3次元 円形および棒グラフおよびプレゼンテーションレポート
  • 非結晶質含有量決定 標準付き
  • 優先オリエンテーションモデル
  • Brindley吸収補正
  • 基準dリスト用に統合したICDD PDFオーバーレイ
  • 多層解析の為のユーザーによるピーク選択
  • ラインのプロフィール基盤 RIR解析、統計付き
  • 定性解析
  • 「既視感(デジャビュ)」検索/整合
  • 自動相学習

  • x基準付きICSD意識のフィルター
  • 同一構造パターンファインダー
  • 検索/整合 ヒットの要因解析
  • 広範囲な検索/整合フィルター
  • 優先オリエンテーション検索/整合
  • 固溶体検索/整合
  • メジャー/マイナー/追跡相検索/整合
  • 全パターン検索
  • 作成基準パターンデータベース
  • 統計付きセル純化
  • 全データからの構造検索
  • NIST結晶データに対応
  • 粉末回折データベース作成
  • IUCr CIFファイルの読み込みと書き込み
  • ψ–スキャンデータの残留応力解析
  • 空間グループ制約付きパターンインデクシング
  • 3 次元で結晶構造比較
  • 完全物理シミュレーション
  • MDI鉱質データベースを含む
  • 複数パターンの3次元観察
  • 主要フォーマットを全て読み取り
  • θ(シータ)較正
  • プロフィールフィティング
  • 結晶粒サイズの推定
  • バックグラウンドおよびKα2除去
  • 洗練されたデータ平滑化
  • オーバーレイ複数パターン
  • パターン編集
  • 自動ピーク発見