XRDWIN 2.0 LAUE

XRDWIN2.0 LAUEは当社の単結晶方位測定装置の操作およびラウエパターンのデータ解析用に設計されています。
標準機能には、パターンの分析、インデックスの作成、およびクリスタルの向き変更のための包括的なツールセットが含まれています。高速モードは、タービンブレードなどの単結晶部品をより高効率化することで時短に貢献します。

標準機能

• 空間群および結晶データからラウエ・スポットのシミュレーション

• パターンの自動化インデクシング

• オリエンテーションマトリクスの表示

• ラウエパターンをリアルタイムで評価するためのイメージモード

• 編集可能なイメージフレーム

• ラウエイメージの保存

設定

• ラウエ パターンの手動整合用の001、011、111オーバーレイ

• 編集可能なカスタムhklオーバーレイ

• オーバーレイ回転用の間隔マウス制御

• USA 角:γ(ガンマ)、δ(デルタ)、α(アルファ)、β(ベータ)、R値

• US 規約1および2

• UK 角:γ(ガンマ)、δ(デルタ)、θ(シータ)、α(アルファ)、R値、κ(カッパ)、ρ(ロー)、ω(オメガ)

• R 値計算は下記を使用して入手可能。

REL cos (R-2cos)、REL rms (R-2RMS)、DIFF cos (R-3cos)、DIFF rms (R-3RMS)、単一角 cos (R-1cos)

• 最短001基準オプションおよび局所基準オプション付きのオフ オリエンテーションモード

• 様々なラウエパターンにマッチングさせる自動インデクシング機能

• お客様の要求に基づく情報処理スクリーンカスタム化(オプション)

• 測定結果をデータベースにインターフェースする機能(オプション)