<< 1つ前に戻る 粉末回折

XRDWIN 2.0 PD

XRDWIN2.0 PDは当社の粉末解析の操作および粉末パターンのデータ解析用に設計されています。基本的な定性的および定量的解析にはXRDWIN PDをお選びください。

XRDWin PD 機能

• 測定器のウォームアップと制御、データ収集

• K-α1とK-α2の分離

• データのスムージング化

• 積分強度

• バックグランドフィッティング

• ピークの検索とフィッティング

• 定量分析のための強度比法

• 定量分析

• 微結晶サイズ

• ICDDデータベース検索マッチ(別途:データーベース)

• MDIジェイド·インターフェース(別途:ジェイド)

MDI Jade 2010

回折パターンの高度な解析にはMDIのJade 2010ソフトウェアをお勧めします。このプログラムは XRDWIN PDと統合してRietveld詳細化のような高度な解析ツールに一様にアクセスできるようにします。

JADE 2010 FEATURES

• ワンクリックの解析

• 粘土d間隔カーソル

• 全パターンフィティング

• Rietveld解析

• Rietveldでの制約結合距離

• 知的XRD入力ツール

• クラスター解析

• 移動限界前後の比較

• 格子定数を詳細化しながらダイナミックな3次元原子移動

• 格子定数の移動限界およびプロフィール広幅化

• バッチ処理に対する定量報告

• 純化した相のまとめ

• 除外する領域を指定する機能

• 制約モデルプロフィール

• 原子座標の知的制約

• 多項式/ユーザーバックグラウンドモデル 自動純化の複数観察パターン

• 自動純化の複数観察パターン

• 格子定数決定

• 利用可能構造の洗練された自動装填

• 純化のリアルタイム表示

• 構造/無構造の相データ

• 定量的解析

• スパイク較正のプロットおよびカーブ

• 2/3次元 円形および棒グラフおよびプレゼンテーションレポート

• 非結晶質含有量決定 標準付き

• 優先オリエンテーションモデル

• Brindley吸収補正

• 基準dリスト用に統合したICDD PDFオーバーレイ

• 多層解析の為のユーザーによるピーク選択

• ラインのプロフィール基盤 RIR解析、統計付き

• 定性解析

• 「既視感(デジャビュ)」検索/整合

• 自動相学習

• x基準付きICSD意識のフィルター

• 同一構造パターンファインダー

• 検索/整合 ヒットの要因解析

• 広範囲な検索/整合フィルター

• 優先オリエンテーション検索/整合

 

 

• 固溶体検索/整合

• メジャー/マイナー/追跡相検索/整合

• 全パターン検索

• 作成基準パターンデータベース

• 統計付きセル純化

• 全データからの構造検索

• NIST結晶データに対応

• 粉末回折データベース作成

• IUCr CIFファイルの読み込みと書き込み

• ψ–スキャンデータの残留応力解析

• 空間グループ制約付きパターンインデクシング

• 3 次元で結晶構造比較

• 完全物理シミュレーション

• MDI鉱質データベースを含む

• 複数パターンの3次元観察

• 主要フォーマットを全て読み取り

• θ(シータ)較正

• プロフィールフィティング

• 結晶粒サイズの推定

• バックグラウンドおよびKα2除去

• 洗練されたデータ平滑化

• オーバーレイ複数パターン

• パターン編集

• 自動ピーク発見

残留応力測定システム   •  粉末回折システム   •  ラウエシステム  • X線管球

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