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プロトAXRDはコストパフォーマンスが非常に高い卓上型粉末回折システムです。

AXRD はFWHM (半値全幅)ピーク解像度< 0.05º 2θを達成でき、全角範囲に亘って

< ± 0.02º Δ2θの角精度を維持しているため、評価が難しいとされる材料測定に対しても

十分な測定精度を発揮します。

AXRD

 卓上型粉末回折

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更にAXRDは相識別、定量分析、あるいは構造解析等、あらゆる測定条件に対応。

コンパクトな設計がメンテナンスを容易にし、長期間に亘り、お客様に便利さと

高い信頼性を提供します。

オプション

X 線検出器

 

• NaI(Tl)シンチレーションカウンター

• 固体(高エネルギー分解およびXRFオプション)

• リニアPSD(高速シリコン帯)

ソフトウェア

 

• XRDWIN PD

• MDI Jade 2010

データベース

 

• ICDD PDF-2

• ICCD PDF-4+

アクセサリ

 

• 回転試料台                      • グラファイトモノクロメーター

• 6位置試料交換器             • Siゼロバックグラウンドホルダー

• 空気敏感試料ホルダー    • 標準および特注試料ホルダー

 

 

※お客様の測定要望に合わせた、カスタムAXRDの

 製作も可能です。詳細は別途お問い合わせ下さい。

残留応力測定システム   •  粉末回折システム   •  ラウエシステム  • X線管球

© 2010 プロトマニュファクチュアリング inc.

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