プロトAXRDはコストパフォーマンスが非常に高い卓上型粉末回折システムです。
AXRD はFWHM （半値全幅）ピーク解像度< 0.05º 2θを達成でき、全角範囲に亘って
< ± 0.02º Δ2θの角精度を維持しているため、評価が難しいとされる材料測定に対しても
十分な測定精度を発揮します。
卓上型粉末回折
更にAXRDは相識別、定量分析、あるいは構造解析等、あらゆる測定条件に対応。
コンパクトな設計がメンテナンスを容易にし、長期間に亘り、お客様に便利さと
高い信頼性を提供します。
X 線検出器
• NaI（Tl）シンチレーションカウンター
• 固体（高エネルギー分解およびXRFオプション）
• リニアPSD（高速シリコン帯）
ソフトウェア
• XRDWIN PD
• MDI Jade 2010
データベース
• ICDD PDF-2
• ICCD PDF-4+
アクセサリ
• 回転試料台 • グラファイトモノクロメーター
• 6位置試料交換器 • Siゼロバックグラウンドホルダー
• 空気敏感試料ホルダー • 標準および特注試料ホルダー
※お客様の測定要望に合わせた、カスタムAXRDの
製作も可能です。詳細は別途お問い合わせ下さい。
